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GBW13965二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
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产品编号:
GBW13965
产品规格:
每盒1片
CAS号:
上架日期:
21-01-04 16:34
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商品介绍
本标准物质主要用于薄膜厚度测量和表面化学分析(深度剖析)仪器设备的检定/校准,分析方法的确认与评价、技术仲裁测量以及测量质量控制等。
更多二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质标准值:
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